SIMULATION COMPUTER MODEL FOR VIRTUAL RESEARCH OF OPTOELECTRONIC MEASURING SYSTEMS : научное издание

Описание

Перевод названия: ИМИТАЦИОННАЯ КОМПЬЮТЕРНАЯ МОДЕЛЬ ДЛЯ ВИРТУАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМ

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2019

Идентификатор DOI: 10.31772/2587-6066-2019-20-4-416-422

Ключевые слова: измерение координат, точечный объект, имитационное компьютерное моделирование, погрешность измерения, оптимальное согласование параметров, coordinate measurement, point object, computer simulation, measurement error, optimal parameter matching

Аннотация: The paper considers a simulation computer model of an optoelectronic system for measuring the point objects coordinates. The model allows optimal coordination of the system links parameters in order to minimize the measurement error. The method of multiple statistical tests which allows accumulating the results of single computatioПоказать полностьюnal experiments for each specific measurement event with a unique random distribution of links parameters and characteristics, and then carrying out statistical processing of the accumulated results is the main method of computer simulation. As a result of multiple analyses, multi-parameter functional dependencies that provide optimal coordination of parameters controlled by the designer or operator according to the criterion of the resulting measurement error minimizing are realized. The article presents the results of evaluating modeling parameters that reduce the measurement error. It is relevant to apply this method when using the same measuring system in different operating conditions, for different measured objects and when performing various functional tasks since it allows adapting the system for a specific application. The model presented in the article can be concretized for the purpose of evaluating and multi-parameter optimization of particular object parameters, as well as for developing a virtual measuring stand on the basis of the model and its modifications. Рассматривается имитационная компьютерная модель оптико-электронной системы измерения координат точечных объектов, позволяющая проводить оптимальное согласование параметров звеньев системы с целью минимизации погрешности измерений. Основным методом имитационного компьютерного моделирования является метод многократных статистических испытаний, позволяющий накапливать результаты однократных вычислительных экспериментов для каждого конкретного акта измерения при уникальном случайном распределении параметров и характеристик звеньев, а затем проводить статистическую обработку накопленных результатов. В результате многократного анализа реализуются многопараметрические функциональные зависимости, обеспечивающие оптимальное согласование контролируемых проектировщиком или оператором параметров по критерию минимизации результирующей погрешности измерений. В статье приведены результаты оценки параметров моделирования, уменьшающих погрешность измерений. Актуальным является применение данного метода при использовании одной и той же измерительной системы в разных условиях эксплуатации, для различных измеряемых объектов и при выполнении различных функциональных задач, поскольку позволяет адаптировать систему для конкретного применения. Приведенная в статье модель может быть конкретизирована с целью оценки и многопараметрической оптимизации параметров конкретного объекта, а также для разработки на основе модели и ее модификаций виртуального измерительного стенда. (Русскоязычная версия представлена по адресу https://vestnik.sibsau.ru/arhiv/)

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Сибирский журнал науки и технологий

Выпуск журнала: Т. 20, 4

Номера страниц: 416-422

ISSN журнала: 25876066

Место издания: Красноярск

Издатель: Сибирский государственный университет науки и технологий им. акад. М.Ф. Решетнева

Персоны

  • Gritskevich Y.V. (Siberian State University of Geosystems and Technologies)
  • Zvyagintseva P.A. (Siberian State University of Geosystems and Technologies)
  • Makarova D.G. (Siberian State University of Geosystems and Technologies)
  • Egorenko M.P. (Siberian State University of Geosystems and Technologies)
  • Zolotarev V.V. (Reshetnev Siberian State University of Science and Technology)

Вхождение в базы данных