Тип публикации: патент
Год издания: 2025
Аннотация: Программа предназначена для моделирования технологического процесса литья с целью контроля параметров литья и параметров безопасности процесса непосредственно во время литья. Позволяет рассчитать температуры различных областей и поверхностей слитка при разных условиях литья. Может быть использована для отработки алгоритмов управленПоказать полностьюия. Программа позволяет прогнозировать возникновение дефектов и прорывов металла на основании текущих и прогнозируемых параметров.